高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。
 

　　高溫四探針測試儀采用高的精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
 

　　高溫四探針測試儀的應(yīng)用范圍：
 

　　高溫四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。根據(jù)不同材料特性需要，配有多款測試探頭：
 

　　1、高耐磨碳化鎢探針探頭，測量硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
 

　　2、球形鍍金銅合金探針探頭，測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻；
 

　　3、配合四端子測試夾具，測量電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻；
 

　　4、高溫四探針測試儀探頭可測試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。